文章詳細(xì)介紹了機(jī)器學(xué)習(xí)在指導(dǎo)化學(xué)合成、頻助輔助多維材料表征、頻助獲取新材料設(shè)計(jì)方法等方面的重要作用，并表示新一代的計(jì)算機(jī)科學(xué)，會(huì)對(duì)材料科學(xué)產(chǎn)生變革性的作用。圖3-11識(shí)別破壞晶格周期性的缺陷的深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)圖3-12由深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)確定的無(wú)監(jiān)督的缺陷分類(lèi)圖3-13不同缺陷態(tài)之間轉(zhuǎn)移概率的分析4機(jī)器學(xué)習(xí)在材料領(lǐng)域的研究展望與其他領(lǐng)域，力深如金融、力深互聯(lián)網(wǎng)用戶(hù)分析、天氣預(yù)測(cè)等相比，材料科學(xué)利用機(jī)器學(xué)習(xí)算法進(jìn)行預(yù)測(cè)的缺點(diǎn)就是材料中的數(shù)據(jù)量相對(duì)較少。作者進(jìn)一步擴(kuò)展了其框架，閱讀也以提取硫空位的擴(kuò)散參數(shù)，閱讀也并分析了與由Mo摻雜劑和硫空位組成的不同配置的缺陷配合物之間切換相關(guān)的轉(zhuǎn)換概率，從而深入了解點(diǎn)缺陷動(dòng)力學(xué)和反應(yīng)（圖3-13）。

地評(píng)短視道課這一理念受到了廣泛的關(guān)注。線(xiàn)聽(tīng)圖3-8壓電響應(yīng)磁滯回線(xiàn)的凸殼結(jié)構(gòu)示例（紅色）。

然后，︱讓為了定量的分析壓電滯回線(xiàn)的凹陷特征，構(gòu)建圖3-8所示的凸結(jié)構(gòu)曲線(xiàn)。

首先，頻助構(gòu)建深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型（圖3-11），頻助識(shí)別在STEM數(shù)據(jù)中出現(xiàn)的破壞晶格周期性的缺陷，利用模型的泛化能力在其余的實(shí)驗(yàn)中找到各種類(lèi)型的原子缺陷。力深圖3.?基于低溫原位動(dòng)態(tài)熱輔助結(jié)晶技術(shù)制備的CsPbBr3薄膜結(jié)晶性動(dòng)力學(xué)分析。

基于此項(xiàng)技術(shù)制備的PeLED器件最大亮度為17350cd/m2，閱讀也最大的電流效率為10.3cd/A，而啟亮電壓（@1cd/m2）僅為2.1V。此外，地評(píng)短視道課在初始亮度為500cd/m2時(shí)，其半T50超過(guò)400分中國(guó)，這一結(jié)果是相關(guān)文獻(xiàn)中最好報(bào)道之一。

在加熱以去除溶劑和表面活性劑的過(guò)程中，線(xiàn)聽(tīng)快速蒸發(fā)往往會(huì)產(chǎn)生不均勻的薄膜形貌，容易出現(xiàn)針孔、裂紋等缺陷。︱讓這一結(jié)果為無(wú)機(jī)鈣鈦礦材料在柔性L(fǎng)ED的方面的應(yīng)用開(kāi)辟了一條新路。