動清圖4.缺陷結(jié)構(gòu)演化對電輸運性能的影響。對于碲化鍺(GeTe)而言,理出如何解耦電聲輸運關(guān)系,獲得更高的ZT值成為了研究人員近年來的研究重點。格內(nèi)?圖3.缺陷結(jié)構(gòu)演化對熱導率調(diào)控的機理。

開發(fā)商自查“夸張宣傳”主動清理出格內(nèi)容

商自(b)873K燒結(jié)樣品的加權(quán)遷移率及加權(quán)遷移率和晶格熱導率的比值與723K燒結(jié)樣品的對比。查夸傳主圖5.熱電優(yōu)值與轉(zhuǎn)化效率測試。

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基于Debye-Callaway模型對不同散射因素對晶格熱導率的貢獻進行計算,張宣證明了缺陷結(jié)構(gòu)工程能有效降低體系的晶格熱導率。

?四、動清小結(jié)綜上所述,該研究工作提出了一種缺陷結(jié)構(gòu)工程的新思路。理出這種缺陷結(jié)構(gòu)調(diào)控的策略為其他體系熱電材料的制備與性能優(yōu)化提供了借鑒。

(e-i)隨機選取的一處帶有位錯和空位層缺陷的高分辨TEM及其FFT、格內(nèi)IFFT和應變分布圖。商自(j-m)位錯網(wǎng)絡(luò)的選取電子衍射圖及不同g矢量(衍射矢量)方向下的形貌圖。

查夸傳主(a)不同燒結(jié)溫度下ZT值隨溫度變化情況的對比。張宣圖5.熱電優(yōu)值與轉(zhuǎn)化效率測試。

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