該研究工作利用了XANES等技術(shù)分析了富含缺陷的四氧化三鈷的化學(xué)環(huán)境，終總從而證明了其中氧缺陷的存在及其相對含量。TEMTEM全稱為透射電子顯微鏡，結(jié)家講講即是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，結(jié)家講講電子在與樣品中的原子發(fā)生碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。目前材料的形貌表征已經(jīng)是絕大多數(shù)材料科學(xué)研究的必備支撐數(shù)據(jù)，個業(yè)家意一個新穎且引人入勝的形貌電鏡圖也是發(fā)表高水平論文的不二法門。

小實此外還可用分子動力學(xué)模擬及蒙特卡洛模擬材料的動力學(xué)行為及結(jié)構(gòu)特征。而目前的研究論文也越來越多地集中在納米材料的研究上，年的生并使用球差TEM等超高分辨率的電鏡來表征納米級尺寸的材料，年的生通過高分辨率的電鏡輔以EDX,EELS等元素分析的插件來分析測試，以此獲得清晰的圖像和數(shù)據(jù)并做分析處理。

該工作使用多孔碳納米纖維硫復(fù)合材料作為鋰硫電池的正極，終總在大倍率下充放電時，終總利用原位TEM觀察材料的形貌變化和硫的體積膨脹，提供了新的方法去研究硫的電化學(xué)性能并將其與體積膨脹效應(yīng)聯(lián)系在了一起。

結(jié)家講講Fig.3Collectedin-situTEMimagesandcorrespondingSAEDpatternswithPCNF/A550/S,whichpresentstheinitialstate,fulllithiationstateandhighresolutionTEMimagesoflithiatedPCNF/A550/SandPCNF/A750/S.材料物理化學(xué)表征UV-visUV-visspectroscopy全稱為紫外-可見光吸收光譜。據(jù)韓媒etnews今日報道，個業(yè)家意三星和LG已被證實正在開發(fā)基于高通芯片的XR設(shè)備。

三星和LG并未明確說明何時推出產(chǎn)品，小實報道稱最早預(yù)計在明年上半年。高通技術(shù)公司副總裁兼XR部門總經(jīng)理司宏國（HugoSwart）日前在美國毛伊島上的活動中表示，年的生關(guān)于合作目前不能透露細(xì)節(jié)，年的生但我們確實在與三星電子、LG電子合作。

司宏國對XR設(shè)備的前景表示看好：終總我們認(rèn)為2024年將是VR、AR設(shè)備的增長高峰年，未來2-5年是持續(xù)增長期。注：結(jié)家講講三星、結(jié)家講講高通和谷歌曾于今年2月宣布結(jié)成XR聯(lián)盟，LG總裁趙柱完（音譯）也在今年7月舉行的中長期業(yè)務(wù)戰(zhàn)略新聞發(fā)布會上談到XR時表示，當(dāng)時正與幾家公司接觸并研究商業(yè)化的可能性。