主要研究了具有三種不同尺寸（即16nm，現(xiàn)代41nm和65nm）的Cu納米立方體的結(jié)構(gòu)演變，以與它們的活性，選擇性和穩(wěn)定性如何關(guān)聯(lián)。飯菜不同尺寸的Cu納米立方體在電催化過程中發(fā)生形貌演變并與其電催化性能相關(guān)聯(lián)。標(biāo)準(zhǔn)半成包徹每條線的陰影區(qū)域顯示三次獨立測量的標(biāo)準(zhǔn)偏差。

品菜由41nmCuNCs在CO2RR電解4.5h條件下形成的：a-bCu納米團簇（3nm）和c-eCu納米顆粒（~5nm）。底侵e是d中標(biāo)示區(qū)域的高放大倍數(shù)視圖。

最先進的合成和表征與理論研究相輔相成，現(xiàn)代突出了負(fù)電位作為原始立方形貌喪失的主要驅(qū)動力的作用。

飯菜d.一個Cu納米立方體電解3小時的TEM圖像。在鋰硫電池的研究中，標(biāo)準(zhǔn)半成包徹利用原位TEM來觀察材料的形貌和物相轉(zhuǎn)變具有重要的實際意義。

該工作使用多孔碳納米纖維硫復(fù)合材料作為鋰硫電池的正極，品菜在大倍率下充放電時，品菜利用原位TEM觀察材料的形貌變化和硫的體積膨脹，提供了新的方法去研究硫的電化學(xué)性能并將其與體積膨脹效應(yīng)聯(lián)系在了一起。底侵通過各項表征證實了蒽醌分子中酮基官能團與多硫化物通過強化學(xué)吸附作用形成路易斯酸是提升鋰硫電池循環(huán)穩(wěn)定性的關(guān)鍵。

Fig.2In-situXRDanalysisoftheinteractionsduringcycling.（a）XRDintensityheatmapfrom4oto8.5oofa2.4mgcm–2cellsfirstcycledischargeat54mAg–1andchargeat187.5mAg–1,wheretriangles=Li2S,square=AQ,asterisk=sulfur,andcircle=potentiallypolysulfide2θ.(b)ThecorrespondingvoltageprofileduringtheinsituXRDcyclingexperiment.材料形貌表征在材料科學(xué)的研究領(lǐng)域中，現(xiàn)代常用的形貌表征主要包括了SEM，現(xiàn)代TEM，AFM等顯微鏡成像技術(shù)。目前材料的形貌表征已經(jīng)是絕大多數(shù)材料科學(xué)研究的必備支撐數(shù)據(jù)，飯菜一個新穎且引人入勝的形貌電鏡圖也是發(fā)表高水平論文的不二法門。