圖2材料的彈性點(diǎn)陣應(yīng)變在兩階段疲勞載荷的表現(xiàn)在對上述加載及失效行為進(jìn)行系統(tǒng)性分析后，中心研究人員得出以下四個(gè)關(guān)鍵結(jié)論：中心材料內(nèi)部的微孔洞（損傷）分布和失效后的殘余點(diǎn)陣應(yīng)變分布存在內(nèi)在聯(lián)系。首筆圖4失效后EBSD表征的滑移帶形貌以及滑移帶上殘余點(diǎn)陣切應(yīng)變和測量的點(diǎn)陣應(yīng)變關(guān)聯(lián)機(jī)理實(shí)驗(yàn)觀察到的滑移帶形貌是由于材料內(nèi)部的硬質(zhì)顆粒導(dǎo)致的。綠電詳細(xì)分析和討論見文章全文。

圖5為課題組通過考慮和不考慮硬顆粒計(jì)算得到的EBSD微觀組織形貌，蒙東上述兩個(gè)計(jì)算的微觀組織形貌演變見動(dòng)畫1和動(dòng)畫2。研究人員發(fā)現(xiàn)AA6061鋁合金在經(jīng)歷兩階段拉伸(Tension1,Tension2)，電力達(dá)成以及隨后分別進(jìn)行的疲勞加載(cyclictest1,cyclictest2)過程中出現(xiàn)了材料后期瞬間失效的現(xiàn)象。

如圖3所示，交易交易把失效后的微孔洞分布和殘余點(diǎn)陣應(yīng)變分布分別在極圖上表達(dá)后發(fā)現(xiàn)，其兩者分布呈高度相似現(xiàn)象。

中心圖3材料失效后的殘余點(diǎn)陣應(yīng)變分布和微孔洞分布的關(guān)聯(lián)性上述殘余點(diǎn)陣應(yīng)變的分布主要是由于大變形導(dǎo)致的滑移帶內(nèi)殘余點(diǎn)陣切應(yīng)變造成的。（E）MA3Bi2I9?SC的（002）、首筆（004）、（006）、（0010）和（0012）衍射峰的高分辨率XRD搖擺曲線。

綠電（C）MA3Bi2I9?SC器件的光電導(dǎo)測試。X射線的劑量率為2.44?μGyair?s-1，蒙東電場為60Vmm-1。

團(tuán)隊(duì)研發(fā)了鈣鈦礦單晶生長新方法，電力達(dá)成成功制備了超大尺寸鈣鈦礦單晶，各方面指標(biāo)均領(lǐng)先領(lǐng)域先進(jìn)水平。此外，交易交易MA3Bi2I9?SCX射線探測器顯示出快速的響應(yīng)速度（23.3/31.4ms），因此可以開發(fā)出醫(yī)療和安檢領(lǐng)域急需的X射線篩查系統(tǒng)。