原位XRD技術(shù)是當(dāng)前儲能領(lǐng)域研究中重要的分析手段,大突它不僅可排除外界因素對電極材料產(chǎn)生的影響,大突提高數(shù)據(jù)的真實性和可靠性,還可對電極材料的電化學(xué)過程進行實時監(jiān)測,在電化學(xué)反應(yīng)的實時過程中針對其結(jié)構(gòu)和組分發(fā)生的變化進行表征,從而可以有更明確的對體系的整體反應(yīng)進行分析和處理,并揭示其本征反應(yīng)機制。材料人組建了一支來自全國知名高校老師及企業(yè)工程師的科技顧問團隊,破8培育專注于為大家解決各類計算模擬需求。Figure4(a–f)inoperandoUV-visspectradetectedduringthefirstdischargeofaLi–Sbattery(a)thebatteryunitwithasealedglasswindowforinoperandoUV-visset-up.(b)Photographsofsixdifferentcatholytesolutions;(c)thecollecteddischargevoltageswereusedfortheinsituUV-vismode;(d)thecorrespondingUV-visspectrafirst-orderderivativecurvesofdifferentstoichiometriccompounds;thecorrespondingUV-visspectrafirst-orderderivativecurvesof(e)rGO/Sand(f)GSH/SelectrodesatC/3,respectively.理論計算分析隨著能源材料的大力發(fā)展,中科重點計算材料科學(xué)如密度泛函理論計算,中科重點分子動力學(xué)模擬等領(lǐng)域的計算運用也得到了大幅度的提升,如今已經(jīng)成為原子尺度上材料計算模擬的重要基礎(chǔ)和核心技術(shù),為新材料的研發(fā)提供扎實的理論分析基礎(chǔ)。

中科院“十三五”規(guī)劃 60項重大突破 80個重點培育方向

XANES?X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES)又稱近邊X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(NEXAFS),規(guī)劃是吸收光譜的一種類型。Fig.2In-situXRDanalysisoftheinteractionsduringcycling.(a)XRDintensityheatmapfrom4oto8.5oofa2.4mgcm–2cellsfirstcycledischargeat54mAg–1andchargeat187.5mAg–1,wheretriangles=Li2S,square=AQ,asterisk=sulfur,andcircle=potentiallypolysulfide2θ.(b)ThecorrespondingvoltageprofileduringtheinsituXRDcyclingexperiment.材料形貌表征在材料科學(xué)的研究領(lǐng)域中,項重常用的形貌表征主要包括了SEM,項重TEM,AFM等顯微鏡成像技術(shù)

中科院“十三五”規(guī)劃 60項重大突破 80個重點培育方向

20元的白色大耳朵小狗這只小狗實在太可愛了,大突它有一雙大大的耳朵,像個小熊貓一樣,令人忍不住想撫摸它。

它的毛又白又柔軟,破8培育可以讓人把它擁在懷里,而且這只小狗只要20元,太劃算了。這些強度圖像表明,中科重點由于該結(jié)構(gòu)中缺乏23Na核自旋,來自枝晶特征的信號量受到限制,盡管如此,圖1d中仍可觀察到樹枝狀晶體。

提高分辨率(或生成3D表示)需要對空間區(qū)域進行采樣,規(guī)劃但這意味著在給定的區(qū)域內(nèi),對信號起作用的核自旋數(shù)量減少,因此,實驗時間大大增加。當(dāng)枝晶裂紋擴展回表面時,項重形成剝落形態(tài),在枝晶完全穿過固體電解質(zhì)之前形成錐面斷裂,并導(dǎo)致短路。

通過更傳統(tǒng)的表征分析、大突X射線斷層掃描和掃描電子顯微鏡觀察并證實了剝落的樹枝狀結(jié)構(gòu)。盡管在短路時(圖1a中電壓=0V),破8培育枝晶必須從計數(shù)器延伸到工作電極,但在成像時,沒有觀察到橫穿電極的枝晶,只觀察到枝晶的散裂部分。

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